Sitede ara

Örn: XRF, sertlik, ultrasonik, Hitachi

Ar-Ge Uygulamaları

Yeni malzeme ve proses geliştirme çalışmalarında hızlı, tekrarlanabilir ve izlenebilir element analizi.

Laboratuvarda mikroskopla çalışan araştırmacılar

Ar-Ge ekipleri; yeni alaşımların, kaplamaların ve kompozit malzemelerin geliştirilmesinde bileşimi hızlıca doğrulayabilen, farklı numune tiplerine uyum sağlayan cihazlara ihtiyaç duyar. Doğru analiz yöntemi, deneme sayısını azaltır ve geliştirme süresini kısaltır.

Uygulama alanları

  • Alaşım ve malzeme geliştirme, prototip doğrulama
  • Kaplama ve yüzey işlemlerinin karakterizasyonu
  • Sıvı numunelerde eser element ve derişim ölçümleri
  • Üniversite ve sanayi laboratuvarlarında araştırma projeleri

Önerilen çözümler

Katı numunelerde tahribatsız ön tarama için XRF ve LIBS, metal alaşımlarında hassas bileşim analizi için optik emisyon spektrometreleri kullanılır. Sıvı numunelerde atomik absorbsiyon spektrometreleri eser element tayini, NMR elementel analiz cihazları ise lityum, bor ve sodyum gibi elementlerde reaktifsiz ve hızlı ölçüm sağlar.

Ar-Ge Uygulamaları için doğru cihazı birlikte seçelim

Fiyat teklifi, demo veya teknik bilgi için uzman ekibimize ulaşın.